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當(dāng)前位置:首頁(yè)  >  產(chǎn)品展示  >  通用電子測(cè)量?jī)x器  >  測(cè)試測(cè)量  >  chroma 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

chroma 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:chroma 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 主要特色:提供*電性測(cè)試 (200V/2A) ,可滿足HV及HP測(cè)試Chroma大面積光偵測(cè)器(量測(cè)角度可達(dá)128度)半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測(cè)設(shè)備特制Edge Sensor具有點(diǎn)測(cè)針壓穩(wěn)定,無(wú)疲乏與針壓變動(dòng)問(wèn)題機(jī)械視覺(jué)定位系統(tǒng),縮短人工操作時(shí)間自動(dòng)抽測(cè)功能彈性調(diào)整的軟體操作界面快速芯片掃描系統(tǒng)自動(dòng)破片掃描演算法遮光罩設(shè)計(jì)

  • 產(chǎn)品型號(hào):致茂58173
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-10-26
  • 訪  問(wèn)  量:1207

詳細(xì)介紹

品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域綜合

chroma 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)


主要特色:提供*電性測(cè)試 (200V/2A) ,可滿足HV及HP測(cè)試Chroma大面積光偵測(cè)器(量測(cè)角度可達(dá)128度)半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測(cè)設(shè)備特制Edge Sensor具有點(diǎn)測(cè)針壓穩(wěn)定,無(wú)疲乏與針壓變動(dòng)問(wèn)題機(jī)械視覺(jué)定位系統(tǒng),縮短人工操作時(shí)間自動(dòng)抽測(cè)功能彈性調(diào)整的軟體操作界面快速芯片掃描系統(tǒng)自動(dòng)破片掃描演算法遮光罩設(shè)計(jì),杜絕背景光干擾即時(shí)顯示點(diǎn)測(cè)資料分布圖完善的量產(chǎn)測(cè)試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分析工具


硬體設(shè)備半自動(dòng) LED wafer/chip 點(diǎn)測(cè)設(shè)備漏電流測(cè)試模組電源量測(cè)單元光學(xué)測(cè)試模組ESD 測(cè)試模組 (選配)Chroma 58173 是一組全新*的量測(cè) LED 全光 通量之自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測(cè) 試生產(chǎn)線中,常見(jiàn)使用部份光通量來(lái)取代全光通 量之量測(cè)方式 (見(jiàn)圖1)。然而,傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點(diǎn),例如:準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測(cè) 試時(shí)間較長(zhǎng)等,以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時(shí)會(huì)發(fā)生問(wèn)題。致茂研發(fā)出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測(cè)方式(見(jiàn)圖2)。 這種創(chuàng)新的量測(cè) 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明顯的改善提升了量測(cè)精確度。在光學(xué)量測(cè)方面,主波長(zhǎng)、峰波長(zhǎng)、色溫等均可 透過(guò)致茂*的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得精確且穩(wěn)定 快速之?dāng)?shù)據(jù);在機(jī)構(gòu)方面,58173 搭載一個(gè)6吋 的晶片載盤(pán)與校正基座,提供使用者一個(gè)完整 的校正與測(cè)試平臺(tái);在電性測(cè)試方面,58173 則 具備完整之電源量測(cè)單元,無(wú)論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一 次滿足使用者的測(cè)試需求。


chroma 58173 LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)



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